NY/T 1924-2010 油菜移栽机质量评价技术规范
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基本信息
| 标准名称： | 油菜移栽机质量评价技术规范 |
| 发布部门： | 中华人民共和国农业部 |
| 发布日期： | 2010-07-08 |
| 实施日期： | 2010-09-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版社： | 中国农业出版社 |
| 出版日期： | 2010-09-01 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 农业 林业 粮食与饲料作物 禾谷类作物与产品
基本信息
| 标准名称： | 硅外延片 |
| 英文名称： | Silicon epitaxial wafers |
| 中标分类： |
冶金 >>
半金属与半导体材料 >>
半金属与半导体材料综合 |
| ICS分类： |
电气工程 >>
半导体材料
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| 替代情况： | 替代GB/T 14139-1993 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2009-10-30 |
| 实施日期： | 2010-06-01 |
| 首发日期： | 1993-02-06 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 提出单位： | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 |
| 起草单位： | 宁波立立电子股份有限公司 |
| 起草人： | 许峰、刘培东、李慎重、谌攀 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2010-06-01 |
| 页数： | 12页 |
| 计划单号： | 20062372-T-469 |
适用范围
本标准规定了硅外延片的产品分类、技术要求、试验方法和检验规则及标志、包装运输、贮存等。
本标准适用于在Ｎ 型硅抛光片衬底上生长的ｎ型外延层（Ｎ／Ｎ＋ ）和在ｐ型硅抛光片衬底上生长的Ｐ型外延层（Ｐ／Ｐ＋ ）的同质硅外延片。产品主要用于制作硅半导体器件。其他类型的硅外延片可参照使用。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款?凡是注日期的引用文件,其随后所有
的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本?凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准?
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1 部分；按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
(GB/T2828.1-2003,ISO28591；1999,IDT)
GB/T6617 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T6624 硅抛光片表面质量目测检验方法
GB/T12962 硅单晶
GB/T12964 硅单晶抛光片
GB/T13389 掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂浓度换算规程
GB/T14141 硅外延层?扩展层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
GB/T14142 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
GB/T14145 硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法
GB/T14146 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容电压法
GB/T14246 半导体材料术语
GB/T14847 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
YS/T24 外延钉缺陷的检验方法
所属分类： 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
基本信息
| 标准名称： | 建筑施工作业劳动防护用品配备及使用标准 |
| 发布部门： | 中华人民共和国住房和城乡建设部 |
| 发布日期： | 2009-11-16 |
| 实施日期： | 2010-06-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版社： | 中国建筑工业出版社 |
| 出版日期： | 2010-06-01 |
适用范围
本标准适用于建筑施工企业和建筑工程施工现场作业的劳动防护用品的配备、使用及管理。
前言
没有内容
目录
1 总则
2 基本规定
3 劳动防护用品的配备
4 劳动防护用品使用及管理
本标准用词说明
附:条文说明
引用标准
没有内容
所属分类：
