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GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-14 10:34:47  浏览:8080   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:X射线光电子能谱仪检定方法
英文名称:Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
中标分类: 化工 >> 化工综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 化工技术 >> 分析化学 >> 化学分析
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2010-09-26
实施日期:2011-08-01
首发日期:2010-09-26
作废日期:
主管部门:全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会
提出单位:全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会
起草单位:福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室
起草人:王水菊、时海燕、丁训民
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-08-01
页数:28页
适用范围

本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。

前言

没有内容

目录

前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 符号和缩略语 1 4 方法原理与系统构成 3 5 计量单位与技术指标 4 6 检定环境 5 7 检定项目与方法 5 8 报告检定结果 22 9 检定周期 22

引用标准

下列文件对于本文件的应用是必不可少的,凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用本文件。
GB/T19500—2004 X射线光电子能谱分析方法通则
GB/T21006—2007 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性(ISO21270:2004,IDT)
GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇(ISO18115:2001,IDT)
GB/T20175—2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法(ISO14606:2000,IDT)
GB/T22571—2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准(ISO15472:2001,IDT)
GB/T25185—2010 表面化学分析 X 射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告
(ISO19318:2004,IDT)
ISO15470:1999 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 所选仪器性能参数表述(SurfaceChemical Analysis—X-ray photoelectron spectrometers—Description of selected instrumentalperformanceparameters)
ISO18116 表面化学分析 样品制备和安装程序标准指南(Surfacechemicalanalysis—Guidelinesforpreparationandmountingofspecimensforanalysis)
ISO18118:2004 表面化学分析 AES和XPS 均相材料定量分析用实验测定相对灵敏度因子的使用指南(Surfacechemicalanalysis—Augerelectron spectroscopy and X-ray photoelectron
spectroscopy—Guidetotheuseofexperimentallydeterminedrelativesensitivityfactorsforthequantitativeanalysisofhomogeneousmaterials)
ISO18516:2006 表面化学分析 AES和XPS 横向分辨率的测定(Surfacechemicalanalysis—AugerelectronspectroscopyandX-rayphotoelectronspectroscopy—Determinationoflateralresolution)
ISO19319 表面化学分析 AES和XPS 横向分辨率、分析面积和分析器分析面积的测定(Surfacechemicalanalysis—Augerelectronspectroscopyand X-rayphotoelectronspectroscopy—Determinationoflateralresolution,analysisarea,andsampleareaviewedbytheanalyzer)
ISO24237 表面化学分析 XPS 强度标的重复性和一致性(Surfacechemicalanalysis—X-ray
photoelectronspectroscopy—Repeatabilityandconstancyofintensityscale)

所属分类: 化工 化工综合 基础标准与通用方法 化工技术 分析化学 化学分析
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part7:MEMSBAWfilterandduplexerforradiofrequencycontrolandselection(IEC62047-7:2011);GermanversionEN62047-7:2011
【原文标准名称】:半导体器件.微电机器件.第7部分:射频控制与选择用MEMSBAW滤波器和双工器(IEC62047-7-2011).德文版本EN62047-7-2011
【标准号】:DINEN62047-7-2012
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2012-02
【实施或试行日期】:2012-02-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Characteristics;Components;Definitions;Duplex;Electricalengineering;Filters;Highfrequencies;Layers;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microsystemtechniques;Properties;Samples;Semiconductordevices;Systemengineering;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:30P;A4
【正文语种】:德语


【英文标准名称】:Specificationfor35mmmicrocopyingofserials
【原文标准名称】:连续出版物35mm的缩微复制
【标准号】:BS6313-1982
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1982-12-31
【实施或试行日期】:1982-12-31
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:减低;对比度;参考文献;清晰度;光密度;连续出版物;缩微胶卷;布置;缩微照相
【英文主题词】:opticaldensity;microphotography;bibliographicreferences;microfilm;layout;serials;reducing;contrast(optical);legibility
【摘要】:
【中国标准分类号】:A14
【国际标准分类号】:01_140_20;37_080
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语



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